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开关电源是现代电子系统中的重要组件,可提供精确、高效的电压调节。 MOSFET 发挥着至关重要的作用,充当控制电流的高速开关。 然而,MOSFET 工作期间可能会出现多种损耗类型,从而导致效率和可靠性降低。 为了优化电源性能,必须识别和量化这些损耗。在本文中,我们将探讨与开关电源 MOSFET 相关的八种损耗类型,并讨论如何计算每种损耗以改进电源设计:
1、传导损耗:
沟道导通期间 MOSFET 的导通电阻 (R_ds_on) 会产生导通损耗。 传导损耗 (P_cond) 可使用以下公式计算:
P_cond = I_load^2 * R_ds_on,其中 I_load 是负载电流。
2、开关损耗:
开关损耗发生在 MOSFET 导通和截止状态之间的转换过程中。 总开关损耗 (P_sw) 可以计算为:
P_sw = 0.5 * V_ds * I_load * f_sw * (t_rise + t_fall),其中V_ds是漏源电压,f_sw是开关频率,t_rise是导通时间,t_fall是关断时间。
3、栅极电荷损失:
栅极电荷损耗是由开关操作期间栅极电容的充电和放电引起的。 栅极电荷损失 (P_gate) 可以使用以下公式计算:
P_gate = Q_g * V_gs * f_sw,其中 Q_g 是总栅极电荷,V_gs 是栅源电压,f_sw 是开关频率。
4、 体二极管传导损耗:
当 MOSFET 的本征体二极管在关断状态期间导通时,就会产生体二极管导通损耗。 体二极管传导损耗 (P_diode_cond) 计算如下:
P_diode_cond = I_load * V_f * D,其中 V_f 是二极管正向电压,D 是开关波形的占空比。
5、体二极管反向恢复损耗:
当体二极管从导通状态恢复时,会产生反向恢复损耗。 体二极管反向恢复损耗 (P_diode_rev) 的计算公式如下:
P_diode_rev = 0.5 * V_ds * I_rrm * t_rr * f_sw,其中I_rrm是反向恢复电流,t_rr是反向恢复时间,f_sw是开关频率。
6、雪崩损失:
雪崩损耗发生在 MOSFET 的高能量事件期间,例如短路或电压瞬变。 雪崩损失 (P_avalanche) 计算如下:
P_avalanche = E_avalanche * f_sw,其中 E_avalanche 是每个单个事件的雪崩能量。
7、同步整流损耗:
在同步整流中,由于使用额外的 MOSFET 代替整流二极管,因此会产生损耗。 同步整流损耗(P_sync)可以使用以下公式计算:
P_sync = (I_load^2 * R_ds_on * D) + (0.5 * V_ds * I_load * f_sw * (t_rise_sync + t_fall_sync)),其中使用前面定义的变量,t_rise_sync和t_fall_sync表示同步开启和关闭 次,分别。
8、热损失:
热损耗是由于器件中的温度变化而产生的,并且会降低 MOSFET 的性能。 热损失 (P_ Thermal) 可计算如下:
P_ Thermal = (T_junction - T_ambient) / R_th,其中 T_junction 是结温,T_ambient 是环境温度,R_th 是热阻。
了解和计算这八种损耗对于开关电源设计的优化至关重要。 通过持续监控并最大限度地减少这些损耗类型,工程师可以提高基于 MOSFET 的电源的整体效率和可靠性,并创建更强大、更高效的电子系统。想要了解更多关于电子元器件相关知识,请持续关注我们网站https://www.icanic.cn/,我将持续更新。