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在当代科研与工业领域,测试与测量技术的精确度、效率与可靠性直接影响着产品的质量和创新的速度。ADI(Analog Devices, Inc.)作为全球领先的高性能模拟与混合信号技术供应商,始终致力于为客户提供卓越的测量方案,助力高端测试设备制造商实现技术突破。在最近的展览中,ADI展出了一系列全面且先进的测试分析方案,这些方案不仅满足了最为苛刻的应用需求,更推动了测试与测量技术的持续进化。
8端口矢量网络分析仪:精巧设计,卓越性能
ADI的8端口矢量网络分析仪(VNA)凭借ADL5960的创新技术,提供了从10MHz到20GHz的s参数测量能力,其紧凑型低功耗设计确保了在射频应用中的高精度与易集成性。无论是生产制造测试中的缺陷检测与结构分析,还是多通道网络分析及射频特性测试,这款VNA都能轻松胜任,成为射频工程师的理想伙伴。
高保真信号发生器与采集测量模块:极致信号,精准测量
ADMX100x系列模块采用了ADI专有的数字预失真(DPD)算法,实现了超低失真的信号输出,其卓越的信号保真度尤其适用于高分辨率测试场景。无论是与ADC、音频编解码器的无缝对接,还是在复杂音频系统中的应用,ADMX100x均能提供前所未有的测量精度,为精密测量与特性表征开辟了新天地。
高性能精密阻抗测量分析模块:微小变化,尽在掌握
ADMX2001模块集成了混合信号算法,具备微小电容变化检测与高电阻值测量能力,能够满足从半导体器件测试到传感器评估等广泛领域的测量需求。其内置的校准程序确保了阻抗测量的准确性,无论是电子元件的质量控制,还是电池性能的评估,ADMX2001都是值得信赖的选择。
数字控制高压SMU:精准控制,高效测试
ADMX3001模块通过集成的数字PID控制与状态控制算法,实现了输出电压和电流的精确调节与测量,满足了测试与测量仪器的高标准需求。其24位ADC与PID控制确保了信号源、测量与钳位的精度,而可编程高压电源轨则有效降低了输出放大器的功率损耗,简化了电路板设计。无论是半导体器件的特性分析,还是台式仪器仪表的校准,ADMX3001都能提供卓越的测试解决方案。
ADI的测试与测量方案不仅体现了公司在模拟与混合信号技术领域的深厚积累,更展现了其对客户需求的深刻理解与不断创新的决心。从8端口矢量网络分析仪到高保真信号发生器,再到精密阻抗测量分析模块与数字控制高压SMU,每一款产品都是ADI对科研与工业领域测试需求的精准回应。如需ADI产品规格书、样片测试、采购、BOM配单等需求,请加客服微信:13310830171。