ADI亚德诺半导体推出高效半导体测试解决方案：小型化与高性能并重

在半导体自动化测试领域，信号的高保真度对于确保测试的准确性和可靠性至关重要。高保真信号发生器能够生成多种类型的模拟和数字信号，如正弦波、方波、脉冲波等，为测试提供纯净而稳定的信号源。它们不仅帮助验证器件的基本功能，还能通过模拟现实环境中的噪声干扰来评估器件在极端条件下的表现，例如检测振荡器的频率稳定性等。而采集测量模块则负责捕捉测试对象的响应信号，并将其转化为便于进一步分析的数字数据，通常需要具备高速采样能力和高分辨率以确保数据质量。

据姜海涛透露，基于ADMX1001和ADMX1002芯片组的超低失真波形发生器和采集模块，最显著的特点在于其紧凑的体积内整合了高保真的信号产生和采集功能。ADMX100x系列采用了专有的数字预失真(DPD)技术，能够实现极佳的总谐波失真(THD)表现，确保了信号的高质量与低噪声特性，特别适合于高分辨率测试场合。这款模块在1KHz频率点上实现了-130 dB的THD，媲美专业信号源的精度，在精密ADC测量和音频测试中有广泛应用。同时，其小巧的设计使得集成变得更为简便，用户只需通过SPI接口和标准API即可轻松操作。如需ADMX1001和ADMX1002产品规格书、样片测试、采购、BOM配单等需求，请加客服微信：13310830171。

另外，阻抗测量分析模块是用于测定电子元件在不同频率下的阻抗特性的关键设备，对于高频电路和射频组件尤为关键。ADI推出的高性能精密阻抗测量模块ADMX2001B集成了先进的硬件和软件，简化了阻抗测量系统的开发流程，也能增强现有测试平台的功能。该模块能够在DC到10MHz的范围内进行扫描测量，最小步进精度为0.2Hz，并且在与标准电能表的比较中展现了实验室级别的精度，相对误差控制在万分之五以内。

高压源测量单元(SMU)则是另一款重要的测试设备，它能够提供精确且可控的高压电流或电压，适用于半导体分立器件、集成电路及电力电子器件等高压条件下的性能测试。ADMX3001是一款四通道的高电压、大电流输出SMU，采用24位逐次逼近型ADC和高速高精度DAC构建闭环系统，通过数字PID控制和状态控制算法确保信号源、测量和钳位的准确性。该设备支持±100V电压输出和1A电流输出，有助于减少输出放大器的功率损耗，并简化电路板设计。

此外，在微波信号分析领域，S参数是描述射频和微波网络信号传输特性的重要模型。尽管传统的矢量网络分析仪(VNA)尺寸较大，但ADI推出了一种8端口VNA板卡级解决方案，其优势在于紧凑的设计，支持10MHz至20GHz的频率范围，并具有-60dBm到10dBm的信号电平范围。该方案可以方便地集成到各类射频应用的测试系统中，适用于缺陷检测、结构分析及多端口测量等多种应用场景，从而大幅提高测试效率。

该VNA方案的核心是ADI最新款的宽带矢量网络分析仪模拟前端ADL5960，辅以AD9083 ADC实现高效的信号采样。整个设计将35个以上的ADI器件集成在一起，形成一个多功能模块化的系统，为用户提供灵活而强大的测试工具。