ADI创新解决方案加速仪器仪表开发

来源：ADI| 发布日期：2025-04-26 12:00:01 浏览量：

在当今快节奏的市场环境中，缩短产品开发和上市周期对于客户而言变得至关重要。ADI公司深知客户的挑战所在，并致力于提供超越单一芯片的整体信号链及系统级解决方案。根据ADI仪器仪表事业部高级市场经理姜海涛的介绍，ADI为推动客户开发进程推出了四款核心解决方案。

首先，紧凑型阻抗测试分析模块是一个集成高性能硬件与复杂校准、补偿算法的“即插即用”系统级方案。用户能够轻松获得从直流到10MHz宽频率范围内的高精度阻抗测量结果，适用于电池、半导体器件、电阻、电容、电感等多种被动元件的测量。这种模块化设计显著简化了测试系统的集成与开发工作，提高了多领域阻抗测量的效率。

其次，超低失真信号源模块(ADMX1001/1002)基于业界领先的20位DAC技术，实现了极低失真度(-130dBc THD at 1kHz)和高稳定性。其输出带宽覆盖0-40kHz，可通过DAQ方案进一步扩展。作为一款高性能系统级模块，它特别适合需要精密且干净信号源的应用场景，如高精度ADC测试和音频分析等，提供了便捷而高效的选择。

第三个亮点是低延迟数据采集(DAQ)解决方案参考设计CN0584/5系列，专为对延迟极其敏感的应用而设计，如实时控制和硬件在环(HIL)仿真。该方案实现了从模拟输入采样到模拟输出复现端到端仅约200纳秒的超低延迟，同时确保了信号的高保真度。此外，方案支持多通道模拟输入输出，并集成了保护功能，提升了整体应用的安全性和可靠性。

最后，面对半导体测试等领域对数字控制环路SMU（源测量单元）的需求增长，ADI推出了一款支持+/-100V电压、+/-1A电流（具有多量程选项）、并可并联扩展电流能力的四通道数字化SMU参考设计。此设计整合了ADI最新的高精度ADC、DAC以及高压放大器等关键组件，为客户开发高性能SMU产品提供了一个可靠且高效的起点。

通过这些高度集成、经过验证的模块化解决方案和参考设计，ADI不仅降低了客户的设计门槛，还大幅缩短了研发周期，帮助客户在竞争激烈的测试测量市场中占据有利地位。ADI凭借其深厚的技术积累和持续创新的精神，正不断引领着行业的发展方向，助力全球客户实现更快的产品上市速度和技术革新。无论是提升产品质量还是加快生产效率，ADI提供的解决方案都将是企业成功的重要保障。

注：中芯巨能代理销售ADI公司旗下全系列IC电子元器件，如需产品规格书、样片测试、采购、BOM配单等需求，请加客服微信：13310830171。

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